常用的芯片失效分析手段和流程
2024-08-26 15:00:00
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芯片失效分析是指對集成電路(IC)在使用過程中出現的故障進行系統性調查和分析,以確定故障原因并提供改進建議。常用的失效分析手段和流程如下:


什么是環境試驗檢測?環境測試包括哪些內容?
2024-08-23 11:00:00
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環境試驗主要是檢測電子元器件在不同環境條件下的性能和可靠性,以確保它們在實際應用中能夠穩定工作。環境測試的內容通常包括以下幾個方面:


焊接是什么?焊接的分類有哪些?
2024-08-21 14:00:00
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焊接是一種將兩個或多個材料(通常是金屬)通過加熱、加壓或兩者結合的方式,使其在接觸面上產生熔化或塑性變形,從而形成牢固連接的工藝。焊接廣泛應用于制造、修理和組裝各種結構和設備。

